Test equipment

Test equipment

Industry: Semikonduktor

Tambah istilah baru

Contributors in Uji perlengkapan

Become a Contributors

Test equipment

ada kesalahan ditemukan (NFF)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

Acara yang hasil dari kegagalan atau kesalahan yang terdeteksi atau dilaporkan selama operasi yang tidak dapat diverifikasi pada tingkat yang lebih rendah pemeliharaan.

Institut Nasional standads dan teknologi (NIST)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

Agen bebas-peraturan Departemen Perdagangan Amerika Serikat, NIST persediaan bahan referensi standar tertinggi kualitas dan nilai metrological.

Kanal-N MOS atau kanal-P MOS (NMOS atau PMOS)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

Merujuk kepada urutan di mana semikonduktor dikotori dalam perangkat MOS. , Yang struktur dan dibangun sebagai tipe-N versus bahan tipe-P.

normal mode penolakan (NMR)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

Jumlah penolakan sinyal pada frekuensi tertentu. Biasanya frekuensi penolakan dirancang untuk daya listrik frekuensi seperti 50 atau 60 Hz.

nondeterministic polinomial-waktu sulit (NP-sulit)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

Dalam teori kompleksitas komputasi, adalah kelas masalah informal "setidaknya sebagai keras sebagai masalah di NP." Masalah H NP-sulit jika dan hanya jika ada NP-lengkap masalah L yang waktunya ...

bebas-kembali-ke-nol (NRZ)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

Gelombang digital fomat. Ketika sedikit berlaku terjadi dalam siklus, switch gelombang untuk "1" dan tetap di nilai tersebut sampai batas siklus berikutnya.

Komponen Periferal interconnect (PCI)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

Kinerja tinggi ekspansi bus arsitektur awalnya dikembangkan oleh Intel untuk menggantikan ISA dan EISA. Itu adalah mencapai penerimaan luas sebagai standar untuk PC dan workstation; menawarkan ...