Test equipment

Test equipment

Industry: Semikonduktor

Tambah istilah baru

Contributors in Uji perlengkapan

Become a Contributors

Test equipment

Jaringan wilayah pribadi (PAN)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

Sebuah istilah yang dipopulerkan untuk menggambarkan bagaimana Bluetooth memungkinkan koleksi pribadi perangkat elektronik beroperasi bersama sebagai sebuah kolektif yang logis.

operasi pipa mengubah thread (PAT)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

Daftar pracipta operasi PC ImageFlow yang menentukan koleksi khusus pipelined operasi. Tepukan dapat dijalankan sangat cepat dan digunakan untuk mengkonfigurasi dan mengkonfigurasi pipa pengolahan ...

plastik bola grid array (PBGA)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

Sebuah bola grid array komponen paket substrat yang terbuat dari plastik, kemungkinan FR-4 setara epoxy-fiberglass, Polimida-arramid atau kombinasi serat resin yang serupa.

generator pola acak semu (PRPG)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

PRPGs adalah LFSRs yang kadang-kadang digunakan di ujung depan mesin BIST untuk menghasilkan pseudo-random pola untuk dipersembahkan kepada rangkaian di bawah ujian.

stream pseudo-random kata (PRWS)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

Aliran kata yang mendefinisikan bagaimana beberapa aliran pseudorandom bit disajikan di seluruh sinyal generator paralel output, sering digunakan ketika pengujian serializers atau sekedar ...

pergeseran fasa keying (PSK)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

Modulasi digital mana pembawa beralih di antara dua tahap pengaturan. Di PSK, "0" diberikan oleh mengirimkan sinyal dari fase yang sama sebagai tanda sebelumnya, sementara sedikit "1" diwakili oleh ...

berlapis melalui lubang (PTH)

Semikonduktor; Uji perlengkapan

(1) Sebuah lubang di double sided atau multilayer papan yang digunakan untuk menampung memimpin melalui-lubang komponen dan dilapisi dengan tembaga. (2) Nama alternatif untuk memimpin melalui-lubang ...